Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors (BIAMS)

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Le GEMaC a le plaisir et l’honneur d’organiser la 13ème édition de la conférence internationale “Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors” (BIAMS).

 


La conférence BIAMS accueillera des scientifiques du monde entier pour présenter leurs avancées en caractérisation physique des semiconducteurs par les techniques d'’injection à base de faisceaux focalisés (électrons, ions, photons, …).

La conférence se focalise sur les études expérimentales et théoriques concernant les défauts ponctuels et étendus, impuretés, interfaces, structures quantiques, cristaux 2D, nanomatériaux, matériaux photovoltaïques ou destinés à l’électronique.

Date limite de soumission des résumés : 01 Mars 2016
 

Informations complémentaires :

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Conférence

Campus des Sciences de l'UVSQ

45, Avenue des États Unis 78000 VERSAILLES

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