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Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors (BIAMS)

Conférence - 153 vues
dimanche 05 juin 2016
10:00 à jeudi 09 juin 2016 17:00
Campus des Sciences de l'UVSQ
VERSAILLES FRANCE


Le GEMaC a le plaisir et l’honneur d’organiser la 13ème édition de la conférence internationale “Beam Injection Assessment of Microstructures in Semiconductors” (BIAMS).

 


La conférence BIAMS accueillera des scientifiques du monde entier pour présenter leurs avancées en caractérisation physique des semiconducteurs par les techniques d'’injection à base de faisceaux focalisés (électrons, ions, photons, …).

La conférence se focalise sur les études expérimentales et théoriques concernant les défauts ponctuels et étendus, impuretés, interfaces, structures quantiques, cristaux 2D, nanomatériaux, matériaux photovoltaïques ou destinés à l’électronique.

Date limite de soumission des résumés : 01 Mars 2016
 

Informations complémentaires :

Auteur :
NANCY BRAMBLE

Diplômé
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Lieu
45, Avenue des États Unis
78000 VERSAILLES
Participants
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